Keysight 大中華區授權經銷商、系統整合商及專業服務商
和瑞科技成立於 2009 年，為美商是德科技 (Keysight Technologies) 於大中華地區之 Solution Partner（解決方案夥伴） 與 Professional Service Provider（專業服務商），與 Keysight 一同服務大中華地區半導體與面板產業客戶。
我們的團隊成員深耕參數測試領域超過 25 年，我們不僅是儀器銷售與專業技術服務，更提供從應用開發、系統整合、軟體客制、Server & VM 環境建置等解決方案。滿足客戶由 LAB 元件特性至 FAB 產線量測的全方位測試需求。
是德科技（Keysight Technologies）為全球領先電子量測技術公司，提供全方位硬體、軟體及服務，協助加速電子創新進程。 前往官網 ↗
深耕半導體產業多年，我們累積了豐厚的設備交付與系統整合經驗
兩岸知名半導體晶圓廠與面板廠的長期合作夥伴
與我們一起推動半導體測試的未來
我們誠摯歡迎對半導體測試充滿熱情的您加入和瑞，攜手迎接技術挑戰，在這個快速成長的領域共創未來。
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獎金、津貼、保險、休假、員工活動
走進和瑞，感受我們的工作氛圍與團隊文化
2024 日本北九州員工旅遊
2024 尾牙活動於亞太生態園區
2024 辦公室整修完工
2024 辦公室整修完工
2023 年終尾牙及 Team Building
2023 澎湖員工旅遊
2022 年終尾牙及 Team Building
2022 九族文化村員工旅遊
2021 宜蘭員工旅遊
2019 泰國曼谷／華欣員工旅遊
從 Keysight 單機儀器到產線整合，從規格諮詢到軟體開發 — 和瑞提供半導體業最完整的電性量測解決方案。
點選任一卡片進入該頁面，查看完整方案、案例與規格。從硬體銷售、系統整合、軟體客製到 IT 與 Edge AI — 和瑞涵蓋電性量測產線的所有層面。
各產品線下的具體項目與型號，點選直接跳到對應頁面或章節。
From Keysight instruments to production-line integration, from technical consultation to custom software development, Raytrex provides complete electrical test solutions for semiconductor manufacturing.
Select a card to view related solutions, cases, and specifications. Raytrex covers the full electrical test workflow, including hardware sales, system integration, custom software, IT infrastructure, and Edge AI applications.
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Every production line and test flow is different. Raytrex can support technical consultation, custom software, and turnkey integration. You can also explore Solutions by industry.
Discuss Your Requirement依產業需求整合 — 從半導體前段到光電/RF、面板、MEMS、功率元件，和瑞提供完整的測試方案與系統整合，串接 Keysight 原廠儀器與 Raytrex 自研軟體。
每張卡片列出該產業常見的測試挑戰、Raytrex 對應產品與系統整合方案，以及搭配的 Keysight 原廠儀器。產品可重複出現於不同產業 — 視應用需求而定。
Si 製程 WAT 量產測試與元件特性化的主力產業 — 涵蓋邏輯、記憶體、混合訊號製程。重點在 TACT、量測穩定度、Recipe 共用與 Foundry 規範相容性。
RF Filter、Filter Bank、SAW/BAW、LED、Sensor 等特殊元件量測 — 量產線需要 RF 自動化校正、ISS 治具整合、多通道並行測試與資料分析。
面板廠 TEG 測試以 multi-site 平行架構為主 — Probe Unit 透過 Gantry 移動，需測完整 IV/CV，傳統 WAT Tester SMU 通道不足，需 SMU Mainframe + Switch + LCR 整合，每個 Probe Unit 對應獨立機櫃，由 Hearts 統一控制。
TWS MEMS 麥克風、Sensor 晶圓測試 — 需要多台 LCR Meter 平行量測 CV，並可延伸至 CP 站。自主開發整合軟體，無需依賴原廠特殊機台。
高壓、大電流功率元件量測 — 涵蓋 SiC / GaN 寬能隙半導體與傳統 IGBT、MOSFET、Power Diode。已交付 60+ 套 WAT-HV 整合方案，配備 B1505A 機櫃與 Precio Prober，量產線驗證實績完整。
Keysight 參數測試系列產品
業界主流 WAT 量產測試平台，支援 IV、CV、QS-CV 全自動測試，搭配 SPECS / RMB 軟體可進行測試流程編輯、量測程式開發、批次資料分析。
模組化半導體元件分析儀，可組合 SMU、CMU、QSCV、HV、HC 等多種量測模組，是 IDM / Design House 進行 In-House 元件特性化的首選平台。
8 槽精密 IV 分析儀主機，可組合多通道 SMU 模組進行高密度精密量測，適合 R&D 與自動化測試平台整合。
專為功率元件量測設計的曲線追蹤器與參數分析儀,可進行 high voltage / high current IV 量測,完整涵蓋功率元件靜態特性化。
針對電源電路設計者打造的功率元件分析儀,提供電容、開關損耗、Gate Charge 等動態特性量測,協助元件選型與電路模擬。
低漏電半導體訊號切換主機,擴充 SMU 通道並支援晶圓上多元件自動切換,廣泛用於 WAT / Parametric Test Lab 自動化量測。
高精密 LCR 量測儀,頻率範圍 20 Hz – 2 MHz,廣泛用於 MOS Cap、被動元件、MEMS 等電容、電感、電阻參數量測。
動態功率元件分析儀,業界標準雙脈衝測試 (Double-Pulse Test, DPT) 平台,量測元件在實際應用條件下的動態切換特性與損耗。
ENA 系列向量網路分析儀,提供高動態範圍 S-parameter 量測,廣泛用於 RF 元件、5G 通訊元件、天線與濾波器之高頻參數量測。
業界標竿級高精密數位電壓表 / 萬用表,8.5 / 7.5 digit 解析度,適合小電阻、小電壓、Kelvin Test 等高精密量測場景。
高速脈衝 / 波形產生器，最高 330 MHz pulse / 500 MHz sine；Option 660 支援 660 Mbit/s pattern bit rate，提供精密的脈衝訊號用於元件 stress、endurance、Memory cell 等可靠性與動態量測場景。
PXI 模組化高密度 SMU 系列,可在單一機箱整合多通道 SMU,適合 ATE 平台、量產測試自動化、大規模並行參數量測。
依產業需求查找測試方案？前往 解決方案，依半導體、光電/RF、面板、MEMS、功率元件五大產業挑選對應的 Raytrex + Keysight 產品組合。
B1505A / B1506A / PD1500A / PD1550A
化合物半導體（SiC、GaN）與功率元件（IGBT、MOSFET）是新世代高效率能源轉換的核心元件。和瑞提供 Keysight 完整功率元件分析儀產品線，從 LAB 元件特性化、製程驗證到產線量測一條龍。
業界首屈一指的功率元件分析儀，最高 3 kV 電壓；搭配 N1265A Ultra High Current Expander 可支援至 1500 A 脈衝電流，量測 SiC、GaN、IGBT 等功率元件的靜態特性。
動態功率元件分析儀，業界標準雙脈衝測試 (Double-Pulse Test) 平台，量測元件在實際應用條件下的動態切換特性。
產線管理、多站控制、Data EDA、機台排程與 ML 檢測 — 量身打造的測試環境軟體
和瑞為 Keysight 授權 WAT 機台 4070 / 4080 / 4770 系列專業服務商，提供從測試流程設計、軟體客製、產線整合到 CIM 自動化的全套服務。下列為和瑞為客戶量身打造的代表性軟體專案；另一旗艦標準產品 Raytrex Hearts 多站平行測試軟體可至「測試系統整合」頁參考。
系統架構：Lot Owner / WAT Sponsor 透過瀏覽器存取 WATM Platform，後端整合 WAT Testers、Offline Simulator、DB Server 與外部 MES。
WAT 產線網頁管理平台 — 四大模組統一管程式、機台、Probe Card 與資料
當產線環境日趨複雜，程式、機台、資源與資料的管理愈益重要。WATM 是和瑞自主研發、專為 WAT 產線量身訂作的網頁管理平台，協助工程團隊系統化減少人為失誤、把測試資料轉成可決策的情資。
Step-by-Step 流程引導：軟體逐步帶領工程師完成 ISS wafer 上的 Open / Short / Load / Thru 量測，每步自動驗證。
RF 自動校正軟體 — 把 ISS wafer cal 從繁瑣手動流程變成可重現的自動化作業
RF 量測前的 cal 是耗時且容易失誤的工程：必須在 ISS wafer 上逐一量測 standard、套參數、驗證 Smith Chart。Raytrex Auto-Cal 是和瑞自主研發的自動校正流程軟體，把整個流程自動化、可追溯、可重現，大幅縮短設定時間並降低人為差異。
批次 Setup 匯入：一份 setup 即可載入多組 P9000 raw data，自動依參數執行 Vbd / IV / Map 分析。
客製化 Data EDA 工具 — 為元件分析實驗室打造的多視角資料探勘介面
半導體實驗室常需從機台 raw data 中找趨勢、抓異常。Freega 是和瑞自主研發、針對元件分析實驗室客製的 EDA 工具，提供多視角報表、IV 曲線、Wafer Map 與階層式 Filter，讓工程師快速從資料中萃取結論。
三層式系統：機台端透過 FTP 將 log 上傳，Spyder Server 掃描更新狀態，Client 顯示甘特排程與機況。
機台排程系統 — 把 LAB 與量產線的測試機台統一納管，看得到、派得出、追得回
Spyder 是和瑞自主研發的機台排程與狀態管理工具，把分散的測試機台統一納管：Server 自動掃 log 判讀機況，Client 以時序甘特圖呈現所有機台排程，工程師可遠端派發工作、平移衝突、查詢歷史記錄。
ML Mura 自動辨識：以 CNN 模型在 OLED panel 上標出 Mura 區域，依型態 (spot / line / area / cluster) 分類。
ML OLED Panel Mura 影像偵測 — 把肉眼判讀變成可量化、可重現、可追蹤的 AI 流程
Panel Mura 是 OLED 良率殺手，傳統肉眼判讀耗時且不一致。Taichi 是和瑞自主研發的影像 AI 應用，以 Machine Learning 訓練模型自動辨識 Mura 種類與分佈，讓品保流程量化、可重現、可追蹤。
我們正在研究 Edge AI 技術在 WAT 測試流程的應用：智慧化異常偵測、自動 Recipe 生成、Yield 預測。歡迎有興趣的客戶與我們合作 PoC。
Keysight 全系列展示機 + Auto / Manual Probe Station 現貨
和瑞展示機可用於以下用途: (1) Demo Keysight 與和瑞 WAT 整合功能、(2) 客戶 RD 部門 SI 功能開發評估、(3) 量測代工服務、(4) 售前評估 / 試用。所有展示機皆在和瑞實驗室內正常運作,歡迎來電預約現場 Demo 或洽詢出售方案。
高壓 / 大電流功率元件參數分析儀。支援 IGBT、SiC、GaN 等寬能隙與功率元件之 IV / CV / 動態量測，電壓涵蓋至 3kV；搭配大電流擴充組件可支援至 1500A，並可搭配 Thermal Fixture 進行高溫量測。
| Model | Keysight B1505A (1)MAX V/I: 3kV / 1500A with expander | Keysight B1505A (2)MAX V/I: 3kV / 1A | Keysight B1505A (3)MAX V/I: 3kV / 1A | B1506A-H703kV / 1500A / Thermal Fixture |
|---|---|---|---|---|
| 出廠年份 | 2022 | 2023 | 2024 | 2023 |
| 保固 / 校驗 | 2025/10/21 – 2028/10/20 | 2023/6/12 – 2028/9/8 2 yrs calibration |
2024/12/04 – 2028/3/2 | 2023/7/11 – 2026/10/9 |
| 主要配置 | SMU: HP × 1, MP × 1, HC × 1, MC × 2, HV × 1 CMU × 1 N1265A N1272A / N1273A | SMU: HP × 4, HV × 1 | SMU: HP × 2, MP × 2, HV × 1 CMU × 1 | Option H70 3kV / 1500A / Thermal Fixture |
和瑞自動化 WAT 系統整合方案旗艦組合。Keysight 4771A 參數測試系統搭配 TEL PRECIO Octo 8 吋自動 Prober,可進行半導體晶圓自動化 WAT / TEG 量測,內含 SPECS 量測軟體與完整 Discharge Kit。
| Model | Keysight 4771AParameter Test System | TEL PRECIO Octo8" Auto Prober |
|---|---|---|
| 出廠年份 | 2024 | 2024 |
| 保固 / 校驗 | 2024/02/26 – 2027/02/25 Last Calibration: 2025/02 |
2024/5/15 – 2025/5/14 |
| 主要配置 | SMU: HPSMU × 2, MPSMU × 4 Pin boards: 24 ch E4980A Precision LCR meter 34470A Digital Multimeter Software: SPECS | Hinge for Keysight tester 4082 & 4771 test head TRX Ambient Chuck (Low leak for WAT, max 1kV) SACC、WAPP、OCR PDS (Discharge Kit) |
大尺寸 Semi-auto Prober,適合 TEG 量測 (製程 IV / CV 等參數監控)。Vacuum Stage 設計、X-Y Axis Gantry 結構,可搭配 4 支 TEG probe positioner,最大支援 500 × 500 mm 玻璃基板。
| Model | YESCO YAF-3747MSemi-auto Prober |
|---|---|
| 出廠年份 | 2020 |
| 保固期間 | 2020/06 – 2021/12 原廠保固已結束,機台運作正常 |
| 主要配置 | Dimension: 2.05m (W) × 1.75m (D) × 2.1m (H) X-Y Axis Gantry Assay Head assay for array probe card & monitor Vacuum Stage Assay (anti-vibration) 4 TEG probe positioner Max glass size support: 500 × 500 mm |
在既有量測平台上擴充能力，或以軟體整合多儀器自動化 — 兩條路線、一站到位。
SI 案涉及量測儀器、Prober、治具、軟體、機構等多家 vendor — 由和瑞作為單一窗口統包，技術整合與商務協調一次到位，讓客戶不必對複雜的多 vendor 採購與協作，把心力放回產品本身。
儀器 · 探針卡治具 · 自動化軟體 — 由我們整合並驗證。
多 vendor 整合 · 統一商務窗口 · 彈性配合客戶採購與商務流程。
依客戶量測需求客制 Test Plan / Algorithm 與專用治具方案。
場勘 · 安裝 · 教育訓練 · 校正 · 售後維護 — 設備全生命週期。
傳統 WAT 量測上限受限於 200V 電壓與 1MHz 頻率 — 我們提供兩條整合路線，皆透過外掛 Box Instrument、客制化探針卡介面與 Prober 整合，將量測能力延伸至 Power、RF、Noise 等元件規格。差異在於 — 是否保留 legacy WAT Tester。
在既有 WAT Tester 基礎上外掛儀器與客制化探針卡介面 — 同機台保留 legacy WAT 量產測試能力，並延伸到 Power / RF / Noise 元件規格。
不使用 WAT Tester，直接整合儀器、自動化軟體與 Prober，將單一儀器升級為自動化參數測試機 — 適合 Power / RF 元件量產時的高 throughput 需求。
以下三種擴充規格，情境 A 與情境 B 皆適用 — 差別僅在於是否保留 legacy WAT Tester。
擴增 Power Device 功率元件的高壓 (High Voltage)、大電流量測能力至 WAT 量產線；同一機台完成低壓 → 高壓全規格測試。
將 RF (Radio Frequency) 射頻元件 S-parameter / Load Pull 量測能力整合至 WAT 站點，量測規格從 1 MHz 延伸至 GHz 量級；搭配 Auto Cal with ISS 自動校正軟體，量產線校正零經驗門檻。
外掛 Digital IO 量測模組，於 WAT 站點完成元件 RTN (Random Telegraph Noise) 與 1/f Flicker Noise 量測 — 從量產線直接取得低頻雜訊數據。
和瑞自主研發的自動化測試整合軟體 — 在單一平台上整合 test plan 管理、量測程式編輯、多儀器控制與多站平行測試，協助 LAB 研發與量產線快速建立客製化測試方案。
GPIB TCP/IP RS232 USB，靈活對接實驗室與量產設備。
面板 prober 的 probe unit 架在 gantry 上，由滑軌移動到待測 panel；測試需完整 IV / CV 曲線，量測時間長，因此採用 multi-site 平行架構。傳統 WAT tester 的 SMU channel 數不足，改以 SMU mainframe + Switch + LCR meter 整合方案，每個 probe unit 對應一組獨立機櫃，由 Hearts 統一控制。
E5270B SMU · B2201A Switch · E4980A LCR · B2200A Switch
當特殊元件之產能提升、或並無既有 WAT tester 可整合，使用者便需要一套獨立的專用 Auto Tester。客戶量測 TWS 麥克風 MEMS 元件，需以 4 台 LCR meter 平行量測 CV，由 Hearts 整合此晶圓測試需求。此方案除適用 WAT / TEG 站點，亦可導入 CP 站點。
Keysight E4980A LCR Meter + Auto Prober
我們是 Keysight 授權 WAT 機台 4070/4080/4770 系列的專業服務商，精通產線及實驗室 WAT 機台軟體 (SPECS/RMB) 及量測服務。
不論是新機導入、測試流程優化，或量測異常排除，我們的工程團隊都能提供 Keysight 原廠等級的應用支援。
從實體機房到虛擬化架構，從單機部署到雲端集中管理 — 和瑞協助晶圓廠完成 WAT 量測環境的現代化轉型。
Data Server 建置、VM 化、P2V / V2P、SLB 高可用、雲端集中管理與長期維運 — 降低維運成本、提升部署彈性，為數位孿生與智慧製造奠基。
半導體量測設備的價值，不只在於採購設備本身，而在於如何讓系統長期穩定、低成本、可擴展地運行。
原廠設備導入後，資料伺服器與 IT 環境仍需自行整合，缺乏單一整合窗口。
實體 Server 過保後，續保成本逐年攀升，甚至接近重新採購。
離線模擬環境 (offline simulator) 無法符合 IT 機房的集中管理與資安規範。
商用虛擬化平台改採訂閱制，長期授權成本難以掌控與預估。
工程環境分散於個人電腦，管理、備份與資安風險長期累積。
Raytrex 提供的不是單一工具，而是一套從實體到虛擬、從現場到雲端、從建置到維運的完整轉型能力。
已完成 50+ 個 Data Server 建置與維運專案，服務多個晶圓廠客戶與不同廠區階段。 依客戶廠區階段，提供從新機上線、虛擬化驗證、正式部署到長期維運的完整服務。
實體 Server 在 5 年保固到期後，往往面臨高額續保。越來越多客戶選擇由 IT 部門提供 VM 資源，讓 WAT Data Server 轉為更具彈性的虛擬化架構。
過去，客戶常以原廠 controller 建立離線模擬環境 (offline simulator)；但隨著 IT 規範與資安要求提高，這些環境需要移入標準機房，並符合集中管理與備份要求。 我們可將原廠量測軟體環境封裝為 VM，並支援雙向轉換。
部分商用虛擬化平台改採訂閱制後，許多企業開始重新評估長期授權成本與平台主導權。 我們協助客戶將既有 VMware 架構，轉移至開源虛擬化方案（如 Proxmox VE），在維持管理能力與效能下，降低授權綁定壓力。
我們不只為客戶導入虛擬化與雲端化，內部工程環境也已完成三階段轉型 — 這些經驗，是我們交付給客戶的真實基底。
早期工程師將客戶 VM 環境安裝於個人電腦，雖滿足測試需求，但環境分散、搬移困難、管理與資安風險高。
導入 snapshot 與 clone 機制後，備份、複製與實驗環境建立更快，也降低人為操作風險。
工程環境集中於內部伺服器，工程師透過瀏覽器登入操作不同 VM；每位工程師、每個客戶、每個專案皆建立獨立隔離環境，兼顧彈性、效率與資料保護。
WAT 量測環境的 IT 整合，需要同時理解設備、軟體、IT 與產線 — 這正是 Raytrex 與通用 IT 廠商最大的分野。
| 項目 | 一般 IT 廠商 | Raytrex |
|---|---|---|
| 半導體量測經驗 | 通用 IT 系統整合 | 深耕晶圓廠 WAT 應用 25+ 年 |
| 原廠軟體環境處理 | 通常無法處理封閉環境 | 可執行 P2V / V2P 雙向轉換 |
| Data Server 建置 | 需客戶自行整合規格 | 具 50+ 專案實績 |
| 高可用架構 | 以標準 IT 架構為主 | 可結合 WAT 應用導入 VM + SLB |
| 虛擬化平台 | 多依賴商用授權 | 支援商用與開源（Proxmox VE）平台 |
| 長期維運 | 偏基礎設施維護 | 同時理解設備、軟體、IT 與產線需求 |
核心能力 — 將原廠封閉的專用軟體環境，轉化為可虛擬化、可集中管理、可長期維運的數位資產。若你的組織正面臨以下情境，我們可協助規劃合適的轉型方案：
從 Data Server 建置、VM 轉型、P2V / V2P、SLB 高可用到雲端集中管理 — 我們可協助規劃下一代量測與資料環境。
不改機台、不動原廠軟體。Raytrex 以外掛式 Edge Box，為量測設備補上一層即時感知、自動判斷與流程擴充能力。
從 Data Server、VM、SLB 到 Edge AI，我們的技術不是從實驗室空降，而是從半導體現場的真實需求中發展出來。
許多半導體量測設備已穩定運作多年，但現場想導入 AI 或自動化時，往往不能直接動到機台本身。
部分操作需要工程師介入，原廠軟體不一定能依照現場需求快速擴充。
機台暫停、未定義錯誤、特殊狀態，常需要靠經驗判斷下一步。
無論新機或舊機，原廠軟體都有更新邊界，不能任意加入 AI 或自動化模組。
影像、log、sensor、狀態訊號與工廠系統資料分散，無法即時整合為可行動判斷。
Raytrex 的 Edge AI 方法，是在既有設備旁加入一台外掛式工業電腦，作為智慧中樞。它可接收影像、訊號、log、機台狀態與工廠系統資料，並在設備旁即時進行判斷與回應。
Raytrex Edge AI 不是單一功能，而是一個可逐步擴充的智慧應用平台。
透過相機或畫面擷取，協助進行影像判讀、狀態辨識與異常偵測。
將原本需要人工觸發或人工判斷的流程，轉化為可由軟體輔助執行的自動化邏輯。
結合 log、狀態訊號、影像與歷史資料，協助判斷設備異常與下一步處置。
將原本分散、難以閱讀的 log 與事件資料，轉化為可追蹤、可分析的資訊。
讓工程師可在不長時間守在設備旁的情況下，掌握狀態、接收通知並進行必要介入。
串接 Data Server 與工廠系統，讓設備資料不只被保存，而能被理解、被使用、被行動化。
Raytrex 長期服務晶圓廠與半導體量測場域，累積的不只是軟體開發能力，更包含設備、IT、資料環境與現場維運經驗。這些能力正是 Edge AI 真正落地所需要的基礎。
符合現場設備、機房、網路與資安限制，降低導入阻力。
能與既有設備、Data Server 與工廠系統整合，接上真實資料流。
具備長期維運、擴充與持續改善的可行性，而不是一次性展示。
Raytrex 正在與不同場域共同探索如何把 AI 放到最接近設備的位置，讓資料能即時產生價值。
輔助工程師判斷機台狀態、錯誤訊息與下一步處置。
透過相機或畫面資料，辨識機台畫面、prober 狀態、警示訊息或操作結果。
在不修改原廠軟體的情況下，補上客戶現場需要的流程邏輯。
降低工程師長時間待命需求，提升問題處理效率。
讓 Data Server、Factory Host、MES、EAP、SPC 等系統資料能被整合與應用。
Raytrex 的核心能力，是將原本封閉、難以擴充的專用設備，轉化為可智慧化、可整合、可長期維運的數位資產。只要你的設備具備以下特徵，Edge AI 都可能是一條可行路徑。
Edge AI 不是單一產品，而是一個與場域共同開發的過程。告訴我們你的痛點，我們一起評估外掛式 Edge Box 可以為設備補上哪些新能力。
WAT、TEG、化合物半導體測試專業諮詢
有任何 WAT、TEG、化合物半導體 測試上的疑問，找我們就對了！
最快速的方式是直接寄信。我們的工程團隊會儘速回覆您關於 WAT、TEG、化合物半導體、客制軟體、CIM 整合等任何測試相關需求。